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High-G-Schockprüfung: Erzeugung und Messung von Langzeit-High-G-Beschleunigungsprofilen

Themen

Sensoren

Wann & Wo

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Mo., 23.02.2026, 11:50 - 12:10

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Galerie Ebene 3, NCC Ost

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Einzelheiten

  • Format:

    Vortrag

  • Language:

    Englisch

Sprecher

Standardbild der Kontaktperson
Sebastian Hess
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Fraunhofer EMI